Early Access Tools - Integration of TCAD Tools and Fabrication
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU39341" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU39341 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Early Access Tools - Integration of TCAD Tools and Fabrication
Popis výsledku v původním jazyce
To develop a powerful TCAD( Technology CAD ) package the two main problems are to be solved. The first one is to extract device model parameter values from front-end technological parameters. The second problem to be solved is to calibrate TCAD softwareto specific tools and process modules to give a fast, accurate and reliable method of evaluating and optimizing process conditions without the need to run numerous test wafers. At present the exploitation of the TCAD tools to solve these problems is undder study, and it seems to be just the beginning of a path that provides a new realm of highly accurate device performance modeling. The approaches to integrate process, device and circuit simulation TCAD tools are reviewed and examples to solve these problems by leading TCAD vendors are presented.
Název v anglickém jazyce
Early Access Tools - Integration of TCAD Tools and Fabrication
Popis výsledku anglicky
To develop a powerful TCAD( Technology CAD ) package the two main problems are to be solved. The first one is to extract device model parameter values from front-end technological parameters. The second problem to be solved is to calibrate TCAD softwareto specific tools and process modules to give a fast, accurate and reliable method of evaluating and optimizing process conditions without the need to run numerous test wafers. At present the exploitation of the TCAD tools to solve these problems is undder study, and it seems to be just the beginning of a path that provides a new realm of highly accurate device performance modeling. The approaches to integrate process, device and circuit simulation TCAD tools are reviewed and examples to solve these problems by leading TCAD vendors are presented.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F03%2F0720" target="_blank" >GA102/03/0720: Identifikace parametrů modelů polovodičových struktur</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Electronic Devices and Systems 2003 - Proceedings
ISBN
80-214-2452-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
270-275
Název nakladatele
Novotný-Brno
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
9. 9. 2003
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—