Non-destructive Testing of Luminescent Diodes by Noise

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30671" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30671 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Non-destructive Testing of Luminescent Diodes by Noise
Popis výsledku v původním jazyce
Random two-level or multiple-level current impulses may occur in electronic devices containing reverse biased p-n junctions in a certain operating mode. These impulses are usually rectangular, featuring constant amplitude, random pulse width and pulse origin time points. This phenomenon is generally ascribed to local avalanche breakdowns originating in p-n junction defect regions called microplasma regions. Results of microplasma noise studying may be used for p-n junction non-destructive diagnostics annd quality assessment.
Název v anglickém jazyce
Non-destructive Testing of Luminescent Diodes by Noise
Popis výsledku anglicky
Random two-level or multiple-level current impulses may occur in electronic devices containing reverse biased p-n junctions in a certain operating mode. These impulses are usually rectangular, featuring constant amplitude, random pulse width and pulse origin time points. This phenomenon is generally ascribed to local avalanche breakdowns originating in p-n junction defect regions called microplasma regions. Results of microplasma noise studying may be used for p-n junction non-destructive diagnostics annd quality assessment.

Projekt
<a href="/cs/project/GA103%2F01%2F1058" target="_blank" >GA103/01/1058: Elektromagnetická a akustická emise v pevných látkách</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)