Near-Field Induced Photocurrent Spectra: New Way of Non-destructive Testing of DQW-GRIN Laser Diodes Reliability
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30678" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30678 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Near-Field Induced Photocurrent Spectra: New Way of Non-destructive Testing of DQW-GRIN Laser Diodes Reliability
Popis výsledku v původním jazyce
We present the comparative study of spatially resolved near-field photocurrent (NPC) spectra for high power laser diode arrays with double quantum well before and after degradation due to the aging process. Subwavelength spatial resolution is establishedusing a single mode fiber probe as an excitation source. The potential of the technique for analyzing microscopic aging processes in optoelectronic devices is demonstrated. The nondestructive quality of this method is a particularly attractive for in-siitu analysis of the structures.
Název v anglickém jazyce
Near-Field Induced Photocurrent Spectra: New Way of Non-destructive Testing of DQW-GRIN Laser Diodes Reliability
Popis výsledku anglicky
We present the comparative study of spatially resolved near-field photocurrent (NPC) spectra for high power laser diode arrays with double quantum well before and after degradation due to the aging process. Subwavelength spatial resolution is establishedusing a single mode fiber probe as an excitation source. The potential of the technique for analyzing microscopic aging processes in optoelectronic devices is demonstrated. The nondestructive quality of this method is a particularly attractive for in-siitu analysis of the structures.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Noise and Non-linearity Testing of Modern Electronic Components
ISBN
80-238-9094-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
129-133
Název nakladatele
Ing. Zdeněk Novotný, CSc.
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
12. 9. 2001
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—