Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

NDT of thick film resistors by noise spectroscopy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30731" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30731 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    NDT of thick film resistors by noise spectroscopy

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The noise spectroscopy measurements of thick-film resistors are proposed as a non-destructive testing method for the quality and reliability prediction and possible types of failure evaluation. The thick-film layer structure consists of metallic grains and inter-grain glass layers. Junctions between the metallic grains and glass layers are sources of noise and non-linearity. Important sources of noise are in the vicinity of defects and in the contact region. The main advantages of a noise testing are hiigher sensitivity than DC measurements during life tests. The kinds of noise spectra in view of reliability diagnostic are mainly the typical poor-device indicators like burst noise, generation-recombination noise, 1/f noise, and the 1/fa noise. The non-linearity of the thick-film layer structure is proportional to the distortion of the pure harmonic signal applied to the sample, and is connected with physical anomalies. The noise spectroscopy and non-linearity NDT can be used to adjust

  • Název v anglickém jazyce

    NDT of thick film resistors by noise spectroscopy

  • Popis výsledku anglicky

    The noise spectroscopy measurements of thick-film resistors are proposed as a non-destructive testing method for the quality and reliability prediction and possible types of failure evaluation. The thick-film layer structure consists of metallic grains and inter-grain glass layers. Junctions between the metallic grains and glass layers are sources of noise and non-linearity. Important sources of noise are in the vicinity of defects and in the contact region. The main advantages of a noise testing are hiigher sensitivity than DC measurements during life tests. The kinds of noise spectra in view of reliability diagnostic are mainly the typical poor-device indicators like burst noise, generation-recombination noise, 1/f noise, and the 1/fa noise. The non-linearity of the thick-film layer structure is proportional to the distortion of the pure harmonic signal applied to the sample, and is connected with physical anomalies. The noise spectroscopy and non-linearity NDT can be used to adjust

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ME%20244" target="_blank" >ME 244: Stanovení kvality a spolehlivosti tlustovrstvových rezistorů cumovou spektroskopií</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2002

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of 8th ECNDT

  • ISBN

    84-699-8573-6

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    215-220

  • Název nakladatele

    Spanish Society for NDT AEND

  • Místo vydání

    Leganes, Madrid

  • Místo konání akce

    Madrid

  • Datum konání akce

    17. 6. 2002

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku