NDT of thick film resistors by noise spectroscopy
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30731" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30731 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
NDT of thick film resistors by noise spectroscopy
Popis výsledku v původním jazyce
The noise spectroscopy measurements of thick-film resistors are proposed as a non-destructive testing method for the quality and reliability prediction and possible types of failure evaluation. The thick-film layer structure consists of metallic grains and inter-grain glass layers. Junctions between the metallic grains and glass layers are sources of noise and non-linearity. Important sources of noise are in the vicinity of defects and in the contact region. The main advantages of a noise testing are hiigher sensitivity than DC measurements during life tests. The kinds of noise spectra in view of reliability diagnostic are mainly the typical poor-device indicators like burst noise, generation-recombination noise, 1/f noise, and the 1/fa noise. The non-linearity of the thick-film layer structure is proportional to the distortion of the pure harmonic signal applied to the sample, and is connected with physical anomalies. The noise spectroscopy and non-linearity NDT can be used to adjust
Název v anglickém jazyce
NDT of thick film resistors by noise spectroscopy
Popis výsledku anglicky
The noise spectroscopy measurements of thick-film resistors are proposed as a non-destructive testing method for the quality and reliability prediction and possible types of failure evaluation. The thick-film layer structure consists of metallic grains and inter-grain glass layers. Junctions between the metallic grains and glass layers are sources of noise and non-linearity. Important sources of noise are in the vicinity of defects and in the contact region. The main advantages of a noise testing are hiigher sensitivity than DC measurements during life tests. The kinds of noise spectra in view of reliability diagnostic are mainly the typical poor-device indicators like burst noise, generation-recombination noise, 1/f noise, and the 1/fa noise. The non-linearity of the thick-film layer structure is proportional to the distortion of the pure harmonic signal applied to the sample, and is connected with physical anomalies. The noise spectroscopy and non-linearity NDT can be used to adjust
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ME%20244" target="_blank" >ME 244: Stanovení kvality a spolehlivosti tlustovrstvových rezistorů cumovou spektroskopií</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of 8th ECNDT
ISBN
84-699-8573-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
215-220
Název nakladatele
Spanish Society for NDT AEND
Místo vydání
Leganes, Madrid
Místo konání akce
Madrid
Datum konání akce
17. 6. 2002
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—