Noise and Non-linearity as Reliability Indicators of Electronic Devices

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU39212" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU39212 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26220/03:PU40344

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Noise and Non-linearity as Reliability Indicators of Electronic Devices

Popis výsledku v původním jazyce

An aplication of noise and non-linearity measurements in analysis, diagnostic and prediction of reliability of electronic devices is discussed. The sensitivity of noise and non-linearity to the device defects and other irregularities is typicaly featureof these methods. Conceptions of 1/f noise, burst noise or RTS noise, thermal noise and third harmonic voltage are described and theirs explanation is done. The results of noise and non-linearity measurements are shown. Possible reliability indicators foor conducting film resistors, MOSFETs and quantum dots are presented.

Název v anglickém jazyce

Noise and Non-linearity as Reliability Indicators of Electronic Devices

Popis výsledku anglicky

An aplication of noise and non-linearity measurements in analysis, diagnostic and prediction of reliability of electronic devices is discussed. The sensitivity of noise and non-linearity to the device defects and other irregularities is typicaly featureof these methods. Conceptions of 1/f noise, burst noise or RTS noise, thermal noise and third harmonic voltage are described and theirs explanation is done. The results of noise and non-linearity measurements are shown. Possible reliability indicators foor conducting film resistors, MOSFETs and quantum dots are presented.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ME%20605" target="_blank" >ME 605: Šum HEMT pro globální komunikace</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

MIDEM Cenference 2003 Proceedings

ISBN

961-91023-1-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

12

Strana od-do

3-14

Název nakladatele

MIDEM - Society for Microelectronics, Electronic components and Materials

Místo vydání

Slovenia

Místo konání akce

Ptuj

Datum konání akce

1. 10. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—