Šum a nelinearita jako ukazatel spolehlivosti u elektronických zařízení

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU43792" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU43792 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Noise and Non-Linearity as Reliability Idicators of Electronic Devices

Popis výsledku v původním jazyce

An application of noise and non-linearity measurements in analysis, diagnostics and prediction of reliability of electronic devices is discussed. The sensitivity of noise and non-linearity to the device defects and other irregularities is typical featureof these methods. The principles of noise and non-linearity measuring set-up are shown. Conceptions of 1/f noise, burst or RTS noise, thermal noise and third harmonic voltage are described and theirs explanation is done. Possible reliability indicatorsfor conducting film resistors, MOSFETs and quantum dots are presented.

Název v anglickém jazyce

Noise and Non-Linearity as Reliability Idicators of Electronic Devices

Popis výsledku anglicky

An application of noise and non-linearity measurements in analysis, diagnostics and prediction of reliability of electronic devices is discussed. The sensitivity of noise and non-linearity to the device defects and other irregularities is typical featureof these methods. The principles of noise and non-linearity measuring set-up are shown. Conceptions of 1/f noise, burst or RTS noise, thermal noise and third harmonic voltage are described and theirs explanation is done. Possible reliability indicatorsfor conducting film resistors, MOSFETs and quantum dots are presented.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ME%20605" target="_blank" >ME 605: Šum HEMT pro globální komunikace</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Informacije MIDEM

ISSN

0352-9045

e-ISSN

—

Svazek periodika

2003

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

SI - Slovinská republika

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

213-221

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—