Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

An Investigation of Noise, Nonlinearity, and Long-Term Stability of Thick-Film Resistors

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU39274" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU39274 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    An Investigation of Noise, Nonlinearity, and Long-Term Stability of Thick-Film Resistors

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this paper we present an investigation of the long-term stability, the noise index (Quan-Tech Noise), and the nonlinearity iof small, thick-film resistors made with two high0ohmic (100 kOhm/sq. nominal sheet resistivity) thick-film resisotrs materialsand terminated with two conductor materials (Ag/Pd and low-coist Ag). The results showed that the thick-film resistor paste 2051 has a better long-term stability and a lower current noise than the HS8049 resistor paste.

  • Název v anglickém jazyce

    An Investigation of Noise, Nonlinearity, and Long-Term Stability of Thick-Film Resistors

  • Popis výsledku anglicky

    In this paper we present an investigation of the long-term stability, the noise index (Quan-Tech Noise), and the nonlinearity iof small, thick-film resistors made with two high0ohmic (100 kOhm/sq. nominal sheet resistivity) thick-film resisotrs materialsand terminated with two conductor materials (Ag/Pd and low-coist Ag). The results showed that the thick-film resistor paste 2051 has a better long-term stability and a lower current noise than the HS8049 resistor paste.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2003

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Noise and Non-linearity Testing of Modern Electronic Components

  • ISBN

    80-238-9094-8

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    40-43

  • Název nakladatele

    CNRL

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    12. 8. 2001

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku