Lokální optické vláknové sondy pro mikroskop pracující v blízkém poli

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU42756" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU42756 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Lokální optické vláknové sondy pro mikroskop pracující v blízkém poli

Popis výsledku v původním jazyce

Mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) se stala v posledním desetiletí nedílnou součástí moderních metod lokální mikroskopie, protože STM či AFM mikroskopy, ač mají vyšší rozlišovací schopnost, neumožňují vizualizaci některých optických a elektrickýchvlastnosti vzorků se superrozlišením. Klíčovým místem mikroskopu je vlastní optická sonda, neboť na jejích rozměrech a tvaru závisí rozlišovací schopnost zařízení. Sondy z jednovidového a mnohavidového vlákna byly vyrobeny modifikací dvou základních metood, tj. ohřevem a tažením vlákna či jeho leptáním v různých prostředích a jejich následným pokovením, či ponecháním bez kovové vrstvy. Takto vyrobené sondy umožní dosažení subvlnového rozlišení.

Název v anglickém jazyce

Local fiber probes for Scanning near-field optical microscope

Popis výsledku anglicky

During the last decade, Scanning Near-field Optical Microscope (SNOM) became an integral part of novel methods of local microscopy, due to the fact that STM and AFM do not ensure the visualization and characterization of optical and electronic propertiesof the sample. The optical probe itself is a key element of this microscope, because its dimension and shape are crucial for the device resolution. The singlemode and mutlimode fiber probes has been made by modified two principal methods of fabrication,, e.g. heating and pulling on the one hand and chemical etching in the different solutions on the other hand. The consequent metallization allows then a formation of the small aperture (apex) on the extremity of the fiber. Nonmetallized probe can also beused so that the subwavelenght resolution and local visualization of electric and optical characteristics on the semiconductor junctions is possible.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Jemná mechanika a optika

ISSN

0447-6411

e-ISSN

—

Svazek periodika

49

Číslo periodika v rámci svazku

6

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

163-166

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—