Lokální mikroskopie a spektroskopie nanostrusktur pomocí blízkého optického pole

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU47444" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU47444 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Local near-field scanning optical microscopy and spectroscopy of nanostructures

Popis výsledku v původním jazyce

Visible and near infrared Scanning Near Field Optical Microscopy (SNOM) was used to characterize nanostructured semiconductor materials and structures. SNOM is a relatively new technique that combines the versatility of optical microscopy with the resolution of a scanning probe microscope. Light coupled into a tapered optical fiber is used for excitation. The fiber probe is scanned over the sample while being held ~10 nm above the surface. At this point, any number of high resolution (~100 nm) optical mmeasurements can be made. In this work, the SNOM-induced photocurrent in GaAs devices was measured.

Název v anglickém jazyce

Local near-field scanning optical microscopy and spectroscopy of nanostructures

Popis výsledku anglicky

Visible and near infrared Scanning Near Field Optical Microscopy (SNOM) was used to characterize nanostructured semiconductor materials and structures. SNOM is a relatively new technique that combines the versatility of optical microscopy with the resolution of a scanning probe microscope. Light coupled into a tapered optical fiber is used for excitation. The fiber probe is scanned over the sample while being held ~10 nm above the surface. At this point, any number of high resolution (~100 nm) optical mmeasurements can be made. In this work, the SNOM-induced photocurrent in GaAs devices was measured.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Nano´04

ISBN

80-214-2793-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

188-193

Název nakladatele

Brno University of Technology

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

13. 10. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—