Nanometric applications of the Scanning Near-field optical microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU31701" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU31701 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Nanometric applications of the Scanning Near-field optical microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
Scanning near-field optical microscopy (SNOM or NSOM) involves the potential and technology of scanning probe microscopes and performance of optical microscopes. SNOM combines the excellent spectral and temporal resolution of classical microscopes with spatial resolution better than 100 nm. In this paper the review of basic principles of aperture SNOM and some of its applications are desribed.
Název v anglickém jazyce
Nanometric applications of the Scanning Near-field optical microscopy
Popis výsledku anglicky
Scanning near-field optical microscopy (SNOM or NSOM) involves the potential and technology of scanning probe microscopes and performance of optical microscopes. SNOM combines the excellent spectral and temporal resolution of classical microscopes with spatial resolution better than 100 nm. In this paper the review of basic principles of aperture SNOM and some of its applications are desribed.

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)