Optika a mikroskopie v blízkém poli

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU37697" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU37697 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Optika a mikroskopie v blízkém poli

Popis výsledku v původním jazyce

Rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (Scanning Near-field Optical Microscopy - SNOM) v sobě kombinuje ještě nedoceněný potenciál a technologii rastrovacích mikroskopů s lokální sondou s výkonností optických mikroskopů. SNOM spojuje skvělé spektroskopické a časové rozlišení klasických optických mikroskopů s příčnou rozlišovací schopností často lepší než 100 nm. V tomto přehledu jsou popsány základní principy SNOM s aperturními sondami a některé z jeho aplikací: vliv polarizace na kvalitu obbrazů, magnetické obrazy, lokální charakterizace fotonických součástek, polovodičů a defektů struktur. Tyto příklady ukazují, že SNOM poskytuje pohled do nanosvěta a není již jen pouhou raritou, nýbrž dozrává a stává se plnohodnotným nástrojem nedestruktivního bezkontaktního měření a manipulace.

Název v anglickém jazyce

Near-field optics and microscopy

Popis výsledku anglicky

Scanning Near-field Optical Microscopy - SNOM -combines a potential and technology of scanninh microsocpes with the performance of optical microscopes. SNOM takes together splendid spectroscopic and time-domain features with the resolution better than 100 nm. This review describes the fundamentals and some applications of SNOM: polarization contrast in images, magnetooptical figures, local characteristics of optoelectronic devices, semiconductors and deffects in structure. All these exemples show that tthe microscope is powerful tool for the local surface characterization.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2003

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

3.konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických

ISBN

80-85960-51-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

20-28

Název nakladatele

Vojenská akademie Brno

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

11. 9. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—