Studium lokálních vlastností křemíkových solárních článků

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76145" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU76145 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Study of local properties of silicon solar cells

Popis výsledku v původním jazyce

Study of optical and photoelectrical properties of solar cells is important for cell development and its optimizing. A scanning near-field optical microscope (SNOM) proves to be an invaluable tool for studying (not only) monocrystalline silicon solar cells in microscale resolution. It does not reach as high a resolution as the atomic force microscope (AFM), but it makes the local optical excitation of specimen possible. With regard to the nature of the surface of the solar cell under investigation, theresolution of modified SNOM is more than sufficient. Topography, local reflective power and electrical response measurements of the solar cell are performed in the microscale, even nanoscale resolution. Lock-in nanovoltmetr is used for solar cell local electric response measurement. All of the mentioned measurements can be carried out simultaneously at the same point of the solar cell surface, which is a great benefit of this method. Relationships between the images obtained in the vario

Název v anglickém jazyce

Study of local properties of silicon solar cells

Popis výsledku anglicky

Study of optical and photoelectrical properties of solar cells is important for cell development and its optimizing. A scanning near-field optical microscope (SNOM) proves to be an invaluable tool for studying (not only) monocrystalline silicon solar cells in microscale resolution. It does not reach as high a resolution as the atomic force microscope (AFM), but it makes the local optical excitation of specimen possible. With regard to the nature of the surface of the solar cell under investigation, theresolution of modified SNOM is more than sufficient. Topography, local reflective power and electrical response measurements of the solar cell are performed in the microscale, even nanoscale resolution. Lock-in nanovoltmetr is used for solar cell local electric response measurement. All of the mentioned measurements can be carried out simultaneously at the same point of the solar cell surface, which is a great benefit of this method. Relationships between the images obtained in the vario

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Lokální optická a elektrická charakterizace optoelektronických struktur s nanometrickým rozlišením</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceeding of 23rd European Photovoltaic Solar Energy Conference

ISBN

3-936338-24-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

WIP - Renewable Energies

Místo vydání

Valencia Spain

Místo konání akce

Valencie

Datum konání akce

1. 9. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—