Optika nanopředmětů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU75879" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU75879 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optics of nanoobjects

Popis výsledku v původním jazyce

Conventional optics is diffraction limited to about half of the effective optical wavelength. However the current trend towards miniaturization of optical elements and devices requires methods of observation with high spatial resolutions adapted to the micrometer and submicrometer optical regime. More specifically, the use of Scanning near-field optical microscope (SNOM or NSOM) in various domains is overviewed. Basically an optical tip with a subwavelength aperture at its apex scans over a surface witha spatial resolution, which is not limited by light diffraction. This characteristic makes SNOM a valuable tool to perform various optical or spectroscopic studies on nanoobjects, such as semiconductor quantum dots (QDs), or to address them optically. The paper reviews different methods of far-field and near-field approach to visualize nano-size objects.

Název v anglickém jazyce

Optics of nanoobjects

Popis výsledku anglicky

Conventional optics is diffraction limited to about half of the effective optical wavelength. However the current trend towards miniaturization of optical elements and devices requires methods of observation with high spatial resolutions adapted to the micrometer and submicrometer optical regime. More specifically, the use of Scanning near-field optical microscope (SNOM or NSOM) in various domains is overviewed. Basically an optical tip with a subwavelength aperture at its apex scans over a surface witha spatial resolution, which is not limited by light diffraction. This characteristic makes SNOM a valuable tool to perform various optical or spectroscopic studies on nanoobjects, such as semiconductor quantum dots (QDs), or to address them optically. The paper reviews different methods of far-field and near-field approach to visualize nano-size objects.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F08%2F1474" target="_blank" >GA102/08/1474: Lokální optická a elektrická charakterizace optoelektronických struktur s nanometrickým rozlišením</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings SPIE -Eighth International Conference on Correlation Optics

ISBN

978-0-8194-7218-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

11

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Bellinhgham, USA

Místo konání akce

Chernivtsi

Datum konání akce

11. 9. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000258993700050