Lokální charakterizace struktur optických vlnovodů pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU43648" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU43648 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Local characterization of optical waveguide structure using Scanning near-field optical microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

Scanning near-field optical microscopy (SNOM) has been used to measure the internal spatial modes and local properties controlling optical wave propagation in glass/silica buried waveguides. The period of the observed standing modes provides a direct measure of the effective index, which combined with the measured transverse modal shape and decay constants, determines the values of all spatial components of the wave vector. Typically, small fluctuations in the material properties of structures can prevent proper operation as well as accurate diagnostic device modeling. The SNOM local probe measurements provide a means of detailed characterization, and defects in processing and their affects on performance are readily identified. We have also developeda technique that can obtain information about the locations of remote dielectric interfaces based upon the rate of change in the phase of the standing wave as a function of wavelength. Finally, experimental results addressing the issue of

Název v anglickém jazyce

Local characterization of optical waveguide structure using Scanning near-field optical microscopy

Popis výsledku anglicky

Scanning near-field optical microscopy (SNOM) has been used to measure the internal spatial modes and local properties controlling optical wave propagation in glass/silica buried waveguides. The period of the observed standing modes provides a direct measure of the effective index, which combined with the measured transverse modal shape and decay constants, determines the values of all spatial components of the wave vector. Typically, small fluctuations in the material properties of structures can prevent proper operation as well as accurate diagnostic device modeling. The SNOM local probe measurements provide a means of detailed characterization, and defects in processing and their affects on performance are readily identified. We have also developeda technique that can obtain information about the locations of remote dielectric interfaces based upon the rate of change in the phase of the standing wave as a function of wavelength. Finally, experimental results addressing the issue of

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Applied physics on condensed matter APCOM ? 2004

ISBN

80-227-2073-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

183-186

Název nakladatele

Slovak Technical University in Bratislava

Místo vydání

Bratislava

Místo konání akce

Častá-Píla

Datum konání akce

16. 6. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—