Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU43897" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU43897 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli

Popis výsledku v původním jazyce

Základním problémem všech sondových mikroskopů je jejich příčná rozlišovací schopnost závisející zejména na rozměrech hrotu sondy a na její vzdálenosti od vzorku. Zkoumaný aperturní rastrovací mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) používá pokovenou vláknovou sondu s aperturou 60 nm. Vertikální vzdálenost sondy od předmětu je řízena pomocí střižných sil a nastavuje se pomocí programovatelného předpětí ve smyčce zpětné vazby sondy. Topografické obrazy mřížky získané v různých vzdálenostech jsou porovnáány s AFM obrazem. Experimentální výsledky ukazují značnou závislost obrazů v blízkém poli na vzdálenosti sondy od vzorku. Zobrazovací charakteristiky SNOM jsou porovnány se spektrem prostorových frekvencí obrazu.

Název v anglickém jazyce

The influence of the probe tip-sample distance on the resolution of Scanning near-field optical microscope

Popis výsledku anglicky

Better lateral resolution which depends on the tip dimensions and its distance from the sample is a main goal of all probe microscopes. The proposed aperture scanning near-field optical microscope (SNOM) uses a metallized probe with aperture diameter of60 nm, the vertical position of which is controlled by regulation of the shear force loop current between the probe and the sample and by computer-generated bias voltage. The SNOM topographic images of the grating taken in several probe-sample distances are compared with AFM image. The experimental results demonstrate a strong dependence of the near-field image on the probe-sample distance. The comparison of near-field imaging characteristics with the spatial-frequency spectra of images are shown.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Jemná mechanika a optika

ISSN

0447-6411

e-ISSN

—

Svazek periodika

49

Číslo periodika v rámci svazku

9

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

242-244

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—