Zpětnovazebního řízení v mikroskopu atomových sil při použití jako nano-manipulátor

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU44253" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU44253 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Feedback Control in Atomic Force Microscope used as a nano-manipulator

Popis výsledku v původním jazyce

The aims of the presented paper are to make a concise state-of-art of the most commonly used feedback loops for the atomic force micropes. Moreover, to propose a feedback control loops in order to minimize the effect of the thermal noise on the weak forces measurements and improve manipulation abilities of the AMF. Stringent demand to probe and fabricate systems of ever-shrinking sizes demands an everincreasing performance of instruments like atomic force microscopes (AFM). A typical AFM consists of a micro-cantilever with a sharp tip, a sample positioning system, a detection system and a control system. The actual commercial AFM are using standard PI controller to position the micro-cantilever tip at a desired distance from the sample. Thereis still aneed for studies showing the optimal way of tuning these controllers in order to achieve high closed-loop performances of the positioning. Choosing other controller structures, more suitable to deal with the compromise robustness/perform

Název v anglickém jazyce

Feedback Control in Atomic Force Microscope used as a nano-manipulator

Popis výsledku anglicky

The aims of the presented paper are to make a concise state-of-art of the most commonly used feedback loops for the atomic force micropes. Moreover, to propose a feedback control loops in order to minimize the effect of the thermal noise on the weak forces measurements and improve manipulation abilities of the AMF. Stringent demand to probe and fabricate systems of ever-shrinking sizes demands an everincreasing performance of instruments like atomic force microscopes (AFM). A typical AFM consists of a micro-cantilever with a sharp tip, a sample positioning system, a detection system and a control system. The actual commercial AFM are using standard PI controller to position the micro-cantilever tip at a desired distance from the sample. Thereis still aneed for studies showing the optimal way of tuning these controllers in order to achieve high closed-loop performances of the positioning. Choosing other controller structures, more suitable to deal with the compromise robustness/perform

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

4th International Conference on Advanced Engineering Design

ISBN

80-86059-41-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

182-188

Název nakladatele

Orgit Ltd.

Místo vydání

Glasgow, UK

Místo konání akce

Glasgow

Datum konání akce

5. 9. 2004

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—