Mikroskopie atomárních sil
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F61989592%3A15310%2F01%3A00001328" target="_blank" >RIV/61989592:15310/01:00001328 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Mikroskopie atomárních sil
Popis výsledku v původním jazyce
Mikroskopie atomárních sil náleží do nové rodiny rastrovacích mikroskopů.
Název v anglickém jazyce
Atomic Force Microscopy
Popis výsledku anglicky
The atomic force microscope (AFM) belongs to the new family of scanning probe microscopes (SPM) which originated in the invention of the scanning tunnelling microscope. In the AFM, a sharp probing tip scans the sample surface, while the interaction forces between the tip and sample are regulated by feedback loop. Thus, the AFM can provide topographic images of sample surface at high resolutions from the micrometer scale to the atomic scale.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Matematika - fyzika - informatika
ISSN
1212-1761
e-ISSN
—
Svazek periodika
10
Číslo periodika v rámci svazku
9
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
12
Strana od-do
536-547
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—