Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Mechanické uchycení měřící hlavy rastrovacích mikroskopů

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26620%2F16%3APA21369" target="_blank" >RIV/00216305:26620/16:PA21369 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Mechanické uchycení měřící hlavy rastrovacích mikroskopů

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Hlava mikroskopu tvaru písmene U je uložena na třech dosedacích kuličkách. Ty jsou v bodovém kontaktu se základovou rovinou mikroskopu, po které se může hlava volně pohybovat. Pohyb je umožněn pomocí makroposuvů, se kterými je hlava propojena pomocí tenké kovové planžety. Planžeta je dokonale tuhá v horizontálních osách, ve kterých je pohyb přesně definovaný. Ve vertikální ose je planžeta pružná. Přenos vibrací mezi motory a hlavou mikroskopu je díky pružnému spojení ve vertikální ose omezen. Hlava mikroskopu je z důvodu zvýšení celkové tuhosti předepjata vůči rámu mikroskopu pomocí dvou kuliček.

  • Název v anglickém jazyce

    Mechanical design of the measuring head of Scanning Probe Microscopy

  • Popis výsledku anglicky

    Measuring head (component where the probe is situated) is an important part of the scanning probe microscopes (SPM), especially of the atomic force microscopy (AFM). These microscopes provide a three-dimensional surface imagining and the resulting image consists of pixel composition. Each pixel of this composition represents a point on the sample surface measured (scanned) with the microscope probe. It is obvious, there must be a motion between the probe and the sample to obtain the image of the whole sample surface. The scanning motion is provided due to piezo-scanner (nano- and micrometer scale) and the adjustment of the probe position above the sample is done by piezo-motors (micro- and millimeter scale). These probe positioning piezo-motors are the source of unwanted vibration which affects the measuring accuracy negatively.

Klasifikace

  • Druh

    F<sub>uzit</sub> - Užitný vzor

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Číslo patentu nebo vzoru

    29357

  • Vydavatel

    CZ001 -

  • Název vydavatele

    Industrial Property Office

  • Místo vydání

    Prague

  • Stát vydání

    CZ - Česká republika

  • Datum přijetí

  • Název vlastníka

    Vysoké učení technické v Brně

  • Způsob využití

    B - Výsledek je využíván orgány státní nebo veřejné správy

  • Druh možnosti využití

    A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence