Metoda SNOM a STM v defektoskopii

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU48732" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU48732 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
NEAR-FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY AND SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY IN DEFECTOSCOPY
Popis výsledku v původním jazyce
This paper is dealing with a conjuction of STM and SNOM methods in defectoscopy. First part is focused on common description of STM method, the tunnel effect and two modes of TS 3130 which is instrument for STM made by Tescan are described. Next part gives details about SNOM method and its advantages and disadvantages in the local nondestructive measurement.
Název v anglickém jazyce
NEAR-FIELD SCANNING OPTICAL MICROSCOPY AND SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY IN DEFECTOSCOPY
Popis výsledku anglicky
This paper is dealing with a conjuction of STM and SNOM methods in defectoscopy. First part is focused on common description of STM method, the tunnel effect and two modes of TS 3130 which is instrument for STM made by Tescan are described. Next part gives details about SNOM method and its advantages and disadvantages in the local nondestructive measurement.

Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of the 11th conference student EEICT 2005 volume 2
ISBN
80-214-2889-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
256-260
Název nakladatele
VUT Brno
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
28. 4. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)