Charakteristiky stárnutí zeleně svítících Zn2GeO4:Mn tenkovrstvých elektroluminiscenčních panelů
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU50347" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU50347 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Aging characteristics of green-emitting Zn2GeO4:Mn alternating-current thin-film electroluminescent displays
Popis výsledku v původním jazyce
Optical and aging characteristics of green-emitting Zn2GeO4:Mn alternating-current thin-film electro-luminescent (ACTFEL) displays are presented. Field-ionization of impact-excited Mn+2 luminescent impurities is found to give rise to positive space charge within the Zn2GeO4 phosphor, leading to unusual device behaviours such as conduction current delay, anomalous positive polarity transient luminance annihilation, transferred charge being comprised of mainly relaxation charge, and a decrease in the 50 HHz threshold voltage with increasing temperature. Low temperature aging experiments suggest that aging is at least partially due to hot electron-induced degradation. Although most Zn2GeO4:Mn ACTFEL devices exhibit a moderate amount of aging, certain devices are found to exhibit no measurable aging at 1 kHz when aged for 24 hours.
Název v anglickém jazyce
Aging characteristics of green-emitting Zn2GeO4:Mn alternating-current thin-film electroluminescent displays
Popis výsledku anglicky
Optical and aging characteristics of green-emitting Zn2GeO4:Mn alternating-current thin-film electro-luminescent (ACTFEL) displays are presented. Field-ionization of impact-excited Mn+2 luminescent impurities is found to give rise to positive space charge within the Zn2GeO4 phosphor, leading to unusual device behaviours such as conduction current delay, anomalous positive polarity transient luminance annihilation, transferred charge being comprised of mainly relaxation charge, and a decrease in the 50 HHz threshold voltage with increasing temperature. Low temperature aging experiments suggest that aging is at least partially due to hot electron-induced degradation. Although most Zn2GeO4:Mn ACTFEL devices exhibit a moderate amount of aging, certain devices are found to exhibit no measurable aging at 1 kHz when aged for 24 hours.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Transaction of the VŠB-Technical university of Ostrava, Mechanical series
ISSN
1210-0471
e-ISSN
—
Svazek periodika
51
Číslo periodika v rámci svazku
2
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
1-6
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—