Transportní a šumové charakteristiky NbO a tantalových kondenzátorů
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU52124" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU52124 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Transport and Noise Characteristics of Niobium Oxide and Tantalum Capacitors
Popis výsledku v původním jazyce
The aim of this paper is to characterize the active region quality of NbO and Ta capacitors. This method for assesment of defects in active region of NbO and Ta capacitors is based on the evaluation of VA and noise characteristics and theirs temperaturedependences.
Název v anglickém jazyce
Transport and Noise Characteristics of Niobium Oxide and Tantalum Capacitors
Popis výsledku anglicky
The aim of this paper is to characterize the active region quality of NbO and Ta capacitors. This method for assesment of defects in active region of NbO and Ta capacitors is based on the evaluation of VA and noise characteristics and theirs temperaturedependences.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Capacitor and Resistor Technology
ISSN
0887-7491
e-ISSN
—
Svazek periodika
2005
Číslo periodika v rámci svazku
10
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
210-215
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—