Analýza RTS šumu metodou zero-cross
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU52149" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU52149 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Zero cross analysis of RTS noise
Popis výsledku v původním jazyce
RTS noise of Si MOSFETs and GaN HFET was analysed by means of zero cross method. Noise spectral density of crossing events in 1ms to 100s windows was flat over 10mHz to 1kHz frequency without apparent 1/f noise.
Název v anglickém jazyce
Zero cross analysis of RTS noise
Popis výsledku anglicky
RTS noise of Si MOSFETs and GaN HFET was analysed by means of zero cross method. Noise spectral density of crossing events in 1ms to 100s windows was flat over 10mHz to 1kHz frequency without apparent 1/f noise.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Noise and Fluctuations, 18th International Conference on Noise and Fluctuations - ICNF 2005, AIP Conference Proceedings 780
ISBN
0-7354-0267-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
217-220
Název nakladatele
University of Salamanca
Místo vydání
Salamanca, Španělsko
Místo konání akce
Salamanca, Spain
Datum konání akce
19. 9. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—