Noise and Carge Storage in Nb2O5 Thin Films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU52183" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU52183 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Noise and Carge Storage in Nb2O5 Thin Films
Popis výsledku v původním jazyce
A low frequency noise and DC leakage current measurements have been performed on the MIS structure NbO - Nb2O5 - MnO2. The mechanism of current flow and current noise sources were determined from these measurements. The insulating layer thickness is 50 to 150 nm, relative permittivity about 38. The charge is accumulated not only on NbO and MnO2 electrodes, but also in the Nb2O5 insulating layer. The charge carrier transport is determined by the Poole-Frenkel mechanism and tunnelling in the normal mode ((for NbO electrode positive). In this case g-r noise is dominant for Poole-Frenkel mechanism and 1/f noise is dominant for tunnelling.
Název v anglickém jazyce
Noise and Carge Storage in Nb2O5 Thin Films
Popis výsledku anglicky
A low frequency noise and DC leakage current measurements have been performed on the MIS structure NbO - Nb2O5 - MnO2. The mechanism of current flow and current noise sources were determined from these measurements. The insulating layer thickness is 50 to 150 nm, relative permittivity about 38. The charge is accumulated not only on NbO and MnO2 electrodes, but also in the Nb2O5 insulating layer. The charge carrier transport is determined by the Poole-Frenkel mechanism and tunnelling in the normal mode ((for NbO electrode positive). In this case g-r noise is dominant for Poole-Frenkel mechanism and 1/f noise is dominant for tunnelling.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Noise and Fluctuations
ISBN
0-7354-0267-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
135-138
Název nakladatele
American Institute of Physics
Místo vydání
United States of America
Místo konání akce
Salamanca, Spain
Datum konání akce
19. 9. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—