Vše
Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Výpočet nízkonapěťového BSE detektoru pro rastrovací elektronový mikroskop

Popis výsledku

Práce se zabývá možnostmi detekce zpětně odražených elektronů (BSE) scintilačním detektorem v nízkonapěťové rastrovací elektronové mikroskopii (LV SEM). Nízká energie zpětně odražených elektronů v LV SEM je příčinou nízkého zisku scintilačního detektoru.Pro získání kvalitního BSE obrazu v LV SEM je nutné dodat zpětně odraženým elektronům energii dostatečnou k vybuzení velkého množství scintilací ve scitilátoru.

Klíčová slova

low voltage scanning electron microscopyLV SEMbackscattered electronsdetection

Identifikátory výsledku

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Computations of the Low Voltage BSE Detector in SEM

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper deals with the possibilities of backscattered electrons detection by scintillation detector in low voltage scanning electron microscope (LV SEM). Low energy of signal electrons, especially backscattered electrons, is the reason of lower detectors yield. While the problem of secondary electrons detection was successfully solved by their extraction using a magnetic field and detection in objective lens, efficient detection of backscattered electrons remains unsolved. The initial energy of backsscattered electrons of 0.7-3 kV is the energy, on which the light yield of scintillators decreases. Backscattered electrons with this energy will be accelerated to scintillator by electrostatic field and secondary electrons with maximal energy of 50 eV will be filtered by an energy filter or by a magnetic field.

  • Název v anglickém jazyce

    Computations of the Low Voltage BSE Detector in SEM

  • Popis výsledku anglicky

    This paper deals with the possibilities of backscattered electrons detection by scintillation detector in low voltage scanning electron microscope (LV SEM). Low energy of signal electrons, especially backscattered electrons, is the reason of lower detectors yield. While the problem of secondary electrons detection was successfully solved by their extraction using a magnetic field and detection in objective lens, efficient detection of backscattered electrons remains unsolved. The initial energy of backsscattered electrons of 0.7-3 kV is the energy, on which the light yield of scintillators decreases. Backscattered electrons with this energy will be accelerated to scintillator by electrostatic field and secondary electrons with maximal energy of 50 eV will be filtered by an energy filter or by a magnetic field.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2005

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    proceedings of the 11th Conference Student EEICT 2005

  • ISBN

    80-214-2889-9

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    337-340

  • Název nakladatele

    Vysoké učení technické v Brně

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    28. 4. 2005

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku

Základní informace

Druh výsledku

D - Stať ve sborníku

D

CEP

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Rok uplatnění

2005