Aplikace nové metody měření pro charakterizaci integrovaných kondenzátorů

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU52861" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU52861 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Application of new measurement method to integrated capacitor characterization
Popis výsledku v původním jazyce
A new measurement method has been developed for non-linear integrated capacitor characterization. The paper deals with its application on a test-chip with some test structures of capacitors. The test chip serves for research into methods of nonlinear gate capacitance compensation.
Název v anglickém jazyce
Application of new measurement method to integrated capacitor characterization
Popis výsledku anglicky
A new measurement method has been developed for non-linear integrated capacitor characterization. The paper deals with its application on a test-chip with some test structures of capacitors. The test chip serves for research into methods of nonlinear gate capacitance compensation.

Projekt
<a href="/cs/project/GD102%2F03%2FH105" target="_blank" >GD102/03/H105: Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů
ISBN
80-214-3089-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
65-70
Název nakladatele
Ing. Zdeněk Novotný, CSc., Ondráčkova 105, Brno
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
24. 10. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)