Dynamické testování solárních článků.

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU54519" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU54519 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Dynamické testování solárních článků.

Popis výsledku v původním jazyce

Characterization of solar cells based on evaluation of solar cell response to fast transients is described. The measurement and evaluation procedure is very simple and no expensive devices are needed. The parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and capacitance, serial and parallel resistance and minority carrier lifetime can be acquired easily. To cancel the influence of the depletion layer capacitance a voltage bias in the range 400 - 500 mV was used. The voltage bias was madde with dark current bias or with light bias. The measurement and evaluation scheme is given and some parameters of different quality solar cells are discussed.

Název v anglickém jazyce

Dynamic testing of solar cells

Popis výsledku anglicky

Characterization of solar cells based on evaluation of solar cell response to fast transients is described. The measurement and evaluation procedure is very simple and no expensive devices are needed. The parameters as the reverse breakdown voltage, depletion layer width and capacitance, serial and parallel resistance and minority carrier lifetime can be acquired easily. To cancel the influence of the depletion layer capacitance a voltage bias in the range 400 - 500 mV was used. The voltage bias was madde with dark current bias or with light bias. The measurement and evaluation scheme is given and some parameters of different quality solar cells are discussed.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Mikrosyn. Nové trendy v mikroelektronických systémech a nanotechnologiích. Sborník seminare

ISBN

80-214-3116-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

168-173

Název nakladatele

Nakl. Novotný

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

12. 12. 2005

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—