1/f Šum v CdTe detektorech p-typu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU67898" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU67898 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Investigation of 1/f Noise of p-type CdTe Detectors

Popis výsledku v původním jazyce

This paper presents the results of experimental studies of transport and noise characteristics of CdTe single crystals. Though no universal mechanism has been identified for flicker noise or 1/f noise, it is the most ubiquitous form of noise in nature. Phenomena that have no obvious connection like heartbeat, cell membrane potential, financial data, DNA sequences and transistors exhibit fluctuations with a 1/f character. As the term "1/f" suggests, a spectral density that increases without limit as frequency decreases, characterizes this kind of noise. Flicker noise in the CdTe single crystals was studied. Two CdTe detectors were used; both have p-type conductivity. One of them has low-ohmic contacts (F33B8), another one have high-ohmic contact (452D).

Název v anglickém jazyce

Investigation of 1/f Noise of p-type CdTe Detectors

Popis výsledku anglicky

This paper presents the results of experimental studies of transport and noise characteristics of CdTe single crystals. Though no universal mechanism has been identified for flicker noise or 1/f noise, it is the most ubiquitous form of noise in nature. Phenomena that have no obvious connection like heartbeat, cell membrane potential, financial data, DNA sequences and transistors exhibit fluctuations with a 1/f character. As the term "1/f" suggests, a spectral density that increases without limit as frequency decreases, characterizes this kind of noise. Flicker noise in the CdTe single crystals was studied. Two CdTe detectors were used; both have p-type conductivity. One of them has low-ohmic contacts (F33B8), another one have high-ohmic contact (452D).

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F07%2F0113" target="_blank" >GA102/07/0113: Diagnostika Schottkyho a studenoemisních katod pomocí elektronického šumu</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

30th International Spring Seminar on Electronics Technology 2007

ISBN

978-973-713-174

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

88-89

Název nakladatele

Dan Pitica

Místo vydání

Cluj-Napoca, Romania

Místo konání akce

Cluj-Napoca

Datum konání akce

9. 5. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—