Vyzkum sumu 1/f v CdTe detektorech

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70066" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU70066 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Investigation of 1/f Noise Sources in CdTe Radiation Detectiors
Popis výsledku v původním jazyce
Low frequency noise of CdTe radiation detectors was measured and analyzed. Two CdTe detectors were used for the measurements. Both detectors have p-type conductivity. One of them has low-ohmic contacts (F33B8), another one have high-ohmic contact (452D).The value of flicker noise for both detectors was much higher than theoretical value for CdTe single crystals. Analysis shows that the contact area is the source of extra high low frequency noise value.
Název v anglickém jazyce
Investigation of 1/f Noise Sources in CdTe Radiation Detectiors
Popis výsledku anglicky
Low frequency noise of CdTe radiation detectors was measured and analyzed. Two CdTe detectors were used for the measurements. Both detectors have p-type conductivity. One of them has low-ohmic contacts (F33B8), another one have high-ohmic contact (452D).The value of flicker noise for both detectors was much higher than theoretical value for CdTe single crystals. Analysis shows that the contact area is the source of extra high low frequency noise value.

Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)