Výhody sledování fosílií v jantaru ionizačním detektorem ve VP SEM

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU68861" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU68861 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Advantages of Study of Amber Fossils with Ionization Detector in Variable Pressure SEM

Popis výsledku v původním jazyce

The article deals with a presentation of an examination amber fossils utilizing different signal electron detectors in variable pressure SEM. Unlike the vacuum environment of the conventional SEM, the presence of higher pressure of gases, mostly water vapours, in the specimen chamber of a variable pressure SEM enables direct observation of non-conductive samples free of charging artefacts and creates optimum conditions for the detection of secondary electrons by the ionization detector. The morphology and ultra structure of fossils (insects and various other arthropods, plants) in Baltic amber were investigated in the experimental variable pressure SEM (AQUASEM-II). Obtained images clearly document differences in information provided by utilized detectors.

Název v anglickém jazyce

Advantages of Study of Amber Fossils with Ionization Detector in Variable Pressure SEM

Popis výsledku anglicky

The article deals with a presentation of an examination amber fossils utilizing different signal electron detectors in variable pressure SEM. Unlike the vacuum environment of the conventional SEM, the presence of higher pressure of gases, mostly water vapours, in the specimen chamber of a variable pressure SEM enables direct observation of non-conductive samples free of charging artefacts and creates optimum conditions for the detection of secondary electrons by the ionization detector. The morphology and ultra structure of fossils (insects and various other arthropods, plants) in Baltic amber were investigated in the experimental variable pressure SEM (AQUASEM-II). Obtained images clearly document differences in information provided by utilized detectors.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F05%2F0886" target="_blank" >GA102/05/0886: Výzkum detekčních systémů pravých sekundárních elektronů v nově koncipovaném environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS

ISSN

1431-9276

e-ISSN

—

Svazek periodika

13

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

250-251

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—