Zařízení pro měření statistických charakteristik mikroplazmatického šumu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F07%3APU70073" target="_blank" >RIV/00216305:26220/07:PU70073 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Device for statistical characteristics of microplasma noise measurment

Popis výsledku v původním jazyce

Random two-level current impulses may occur in electronic devices containing reverse biased p-n junctions in a certain operating mode. These impulses are usually rectangular, featuring constant amplitude, random pulse width and pulse origin time points.Based on experiment results, a two-state model of stochastic generation-recombination process has been elaborated for the two-level impulse noise allowing to derive some statistical characteristics of this process. A device for measurement of statisticalcharacteristics in a wide range of time is described in this paper. Thus obtained results may be used for p-n junction non-destructive diagnostics and quality assessment.

Název v anglickém jazyce

Device for statistical characteristics of microplasma noise measurment

Popis výsledku anglicky

Random two-level current impulses may occur in electronic devices containing reverse biased p-n junctions in a certain operating mode. These impulses are usually rectangular, featuring constant amplitude, random pulse width and pulse origin time points.Based on experiment results, a two-state model of stochastic generation-recombination process has been elaborated for the two-level impulse noise allowing to derive some statistical characteristics of this process. A device for measurement of statisticalcharacteristics in a wide range of time is described in this paper. Thus obtained results may be used for p-n junction non-destructive diagnostics and quality assessment.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2007

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

New trends in physics

ISBN

978-80-7355-078-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

90-93

Název nakladatele

Z. Novotný, Ing., CSc.

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

15. 11. 2007

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—