Vše
Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Naprašovaný nylon pro pasivaci solárních článků

Popis výsledku

Článek popisuje první experiment naprašování polymerických vrstev na křemíkové substráty pomocí RF magnetronového naprašování. Vrstvy byly na křemík deponovány z nylonového terče. Cílem je hledání možnosti pasivovat křemíkové povrchy pomocí polymeru, pronahrazení stávajících nitridových materiálů. Vrstvy byly po depozici charakterizovány z hlediska doby života minoritních nosičů metodou MW-PCD a X-ray spektroskopií pro zjišťování složení vrstev.

Klíčová slova

silicon solar cellsputteringnylonMW-PCD

Identifikátory výsledku

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Sputtered nylon as passivation layers of silicon solar cells

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this article a first test of thin polymeric layers deposition using by RF magnetron sputtering is described. The layer was sputtered on the polished silicon wafer from nylon target. The main aim was to find passivation possibilities on the silicon solar cells surface. The sputtered layers are characterized by mw-PCD method for the minority carrier lifetime measurement (and evaluation of the surface recombination velocity) and X-ray spectroscopy (XPS) for the element constitution of sputtered layers.

  • Název v anglickém jazyce

    Sputtered nylon as passivation layers of silicon solar cells

  • Popis výsledku anglicky

    In this article a first test of thin polymeric layers deposition using by RF magnetron sputtering is described. The layer was sputtered on the polished silicon wafer from nylon target. The main aim was to find passivation possibilities on the silicon solar cells surface. The sputtered layers are characterized by mw-PCD method for the minority carrier lifetime measurement (and evaluation of the surface recombination velocity) and X-ray spectroscopy (XPS) for the element constitution of sputtered layers.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    EDS 2007 - 2

  • ISBN

    978-80-214-3470-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    421-424

  • Název nakladatele

    Ing. Zdeněk Novotný CSc., Brno

  • Místo vydání

    Neuveden

  • Místo konání akce

    BRNO

  • Datum konání akce

    20. 9. 2007

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku