Nedestruktivní testování prasklin ve speciálních vodivých materiálech

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU75035" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU75035 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Non-Destructive Testing for Cracks in Special Conductive Materials
Popis výsledku v původním jazyce
In this paper we propose new approaches for recovering conductivity distribution of special structures called honeycombs using electric impedance tomography (EIT). There is presented that algorithms based on stochastic methods are suitable for the detection of some cracks in the conductive honeycombs. There are compared numerical results obtained using stochastic method and using widely known deterministic methods.
Název v anglickém jazyce
Non-Destructive Testing for Cracks in Special Conductive Materials
Popis výsledku anglicky
In this paper we propose new approaches for recovering conductivity distribution of special structures called honeycombs using electric impedance tomography (EIT). There is presented that algorithms based on stochastic methods are suitable for the detection of some cracks in the conductive honeycombs. There are compared numerical results obtained using stochastic method and using widely known deterministic methods.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—

Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika
Studies in Computational Intelligence, Springer Berlin / Heidelberg
ISSN
1860-9503
e-ISSN
—
Svazek periodika
2008
Číslo periodika v rámci svazku
119
Stát vydavatele periodika
DE - Spolková republika Německo
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—

Podobné výsledky(10)