Studium VA-charakteristik solárních článků v širokém rozsahu teplot

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU75859" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU75859 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Study of solar cells I-V chracteristics behaviour in wide range of temperature

Popis výsledku v původním jazyce

This article is focused on single-crystal silicon solar cells study. The function of solar cell could be affected by many defects e.g. dislocations or impurities in silicon. These defects are often local and can result in lower efficiency or shorter solar cell lifetime. Consequently, we can observe many of defects in electric characteristics of solar cells. Measured IV-characteristics and noise signals provide information for defects classification and/or identification. The results of two basic types of the silicon solar cells measuring at very low temperatures are presented in this paper. Used types of solar cells differ in surface texturing. A cryogenic system with wide range of regulated temperatures is used for this measuring. The microscopic study results of samples surface scanning are also presented.

Název v anglickém jazyce

Study of solar cells I-V chracteristics behaviour in wide range of temperature

Popis výsledku anglicky

This article is focused on single-crystal silicon solar cells study. The function of solar cell could be affected by many defects e.g. dislocations or impurities in silicon. These defects are often local and can result in lower efficiency or shorter solar cell lifetime. Consequently, we can observe many of defects in electric characteristics of solar cells. Measured IV-characteristics and noise signals provide information for defects classification and/or identification. The results of two basic types of the silicon solar cells measuring at very low temperatures are presented in this paper. Used types of solar cells differ in surface texturing. A cryogenic system with wide range of regulated temperatures is used for this measuring. The microscopic study results of samples surface scanning are also presented.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Electronic Devices and Systems EDS08

ISBN

978-80-214-3717-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Název nakladatele

Brno University of Technology

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

10. 9. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—