Elektrické a tepelné vlastnosti jednopřechodových solárních článků

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU80768" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU80768 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Extended electrical and thermal properties of single junction silicon solar cells

Popis výsledku v původním jazyce

This paper reports an electrical measurement of the single junction solar cells based on silicon technology. Defects of these samples are often local and can result in lower efficiency or shorter solar cell lifetime. Consequently, we can observe many ofdefects in electric characteristics of solar cells. Measured IV-characteristics and noise signals provide information for defects classification and/or identification. The results of two basic types of the silicon solar cells measurements at very low temperatures are presented in this paper. Used types of solar cells differ above all in the surface texturing and dopand concentration. The cryogenic system is used to accurate setting of temperature with wide range of operating temperatures. The microscopic study of the samples surface is presented, too.

Název v anglickém jazyce

Extended electrical and thermal properties of single junction silicon solar cells

Popis výsledku anglicky

This paper reports an electrical measurement of the single junction solar cells based on silicon technology. Defects of these samples are often local and can result in lower efficiency or shorter solar cell lifetime. Consequently, we can observe many ofdefects in electric characteristics of solar cells. Measured IV-characteristics and noise signals provide information for defects classification and/or identification. The results of two basic types of the silicon solar cells measurements at very low temperatures are presented in this paper. Used types of solar cells differ above all in the surface texturing and dopand concentration. The cryogenic system is used to accurate setting of temperature with wide range of operating temperatures. The microscopic study of the samples surface is presented, too.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GD102%2F09%2FH074" target="_blank" >GD102/09/H074: Diagnostika defektů v materiálech za použití nejnovějších defektoskopických metod</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 15th conference Student EEICT 2009

ISBN

978-80-214-3869-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Název nakladatele

VUT v Brně

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

FEKT VUT v Brně

Datum konání akce

23. 4. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—