Vyhledávání defektů v solárních článcích pomocí nedestruktivních metod

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76403" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU76403 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Vyhledávání defektů v solárních článcích pomocí nedestruktivních metod

Popis výsledku v původním jazyce

Pro detekci lokálních defektů v solárních článcích se nejčastěji používá metoda LBIC (light beam induced current). Jiným způsobem měření defektů je elektroluminiscenece či měření mikroplazem. Elektroluminiscenční zobrazování (EL) může být demonstrováno jako rychlý charakterizační nástroj dovolující vyhodnotit data z velké plochy solárního článku za několik sekund. Při zobrazování EL je dokončený solární článek kontaktován v propustném směru. Dochází ke zvýraznění kontrastu černé a bílé plochy v důsledkunerovnoměrného rozložení proudové hustoty v ploše. Tento jev je zachytitelný průmyslově vyráběnou CCD kamerou. V této práci je porovnání některých nedestruktivních diagnostických metod, jejich přednosti a nedostatky.

Název v anglickém jazyce

Defect detection in solar cells

Popis výsledku anglicky

This work deals with analyzing various types of solar cell defects. Several diagnostic methods, such as LBIC, electroluminescence or fotoluminescence, are compared. The first method is LBIC analysis (Fig. 1) which is widely used as a universal method fordetecting local defects in the solar cells. In the case of LBIC, it is possible to change the source of light. In this case, the source of light is composed of LED diodes of various wave-lengths. The advantage of such source of light is long working time and availability. Various wave-lengths penetrate into various depths of a solar cell and reveal individual types of volumetric and surface defects. The faster way to detect defects is electroluminescence imaging (EL) and photoluminescence (PL). In EL imaging (Fig. 2) a forward bias is applied to the finished solar cells. Due to the different light filters used in our measuring CCD camera, we can observe different type of defects. In order to analyze individual defects in detail, it is

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Alternatívne zdroje energie ALER 08

ISBN

978-80-8070-779-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Slovensko

Místo konání akce

Liptovský Mikuláš

Datum konání akce

9. 10. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—