Šum mikroplazmy jako prostředek pro diagnostuiku PN přechodů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU76406" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU76406 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Microplasma noise as a tool for PN junctions diagnostics

Popis výsledku v původním jazyce

The present paper deals with noise diagnostics of PN junctions in semiconductor devices. The general tool to be employed here is the microplasma noise, which arises in reverse biased PN junctions containing local defects featuring lower breakdown voltagethan the rest PN junction. When a high electric field is applied to this PN junction, local breakdowns arises in micro-sized regions, which in turn can lead to the deterioration in quality or destruction of the PN junction. It is therefore advisable touse methods which can indicate the presence of these regions in the junction and make the quality assessment and quantitative description of the tested devices possible.

Název v anglickém jazyce

Microplasma noise as a tool for PN junctions diagnostics

Popis výsledku anglicky

The present paper deals with noise diagnostics of PN junctions in semiconductor devices. The general tool to be employed here is the microplasma noise, which arises in reverse biased PN junctions containing local defects featuring lower breakdown voltagethan the rest PN junction. When a high electric field is applied to this PN junction, local breakdowns arises in micro-sized regions, which in turn can lead to the deterioration in quality or destruction of the PN junction. It is therefore advisable touse methods which can indicate the presence of these regions in the junction and make the quality assessment and quantitative description of the tested devices possible.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

WSEAS Transactions on Electronics

ISSN

1109-9445

e-ISSN

—

Svazek periodika

4

Číslo periodika v rámci svazku

9

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—