Šumová diagnostika lokálních defektů v PN přechodech solárních článků

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F08%3APU77893" target="_blank" >RIV/00216305:26220/08:PU77893 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Noise diagnostics of local defects in solar cells pn junctions

Popis výsledku v původním jazyce

The present paper deals with noise diagnostics of local defects in monocrystalline silicon solar cells PN junctions. The useful tool is the microplasma noise, which arises in reverse biased PN junctions containing local defects featuring lower breakdownvoltage than the rest PN junction. When a high electric field is applied to this PN junction, local breakdowns arise in micro-sized regions, which in turn can lead to the deterioration in quality or destruction of the PN junction. The correlation betweenthe microplasma current noise and the emitted radiation was studied by means of two methods. The first method is based on simultaneous measurement of the current microplasma noise and the photomultiplier output voltage time behaviour for the constant reverse voltage. The second method uses simultaneous measurement of the reverse-biased PN junction narrow-band RMS noise current and the photomultiplier output narrow band RMS voltage for the ramp reverse voltage. The set of crystalline sil

Název v anglickém jazyce

Noise diagnostics of local defects in solar cells pn junctions

Popis výsledku anglicky

The present paper deals with noise diagnostics of local defects in monocrystalline silicon solar cells PN junctions. The useful tool is the microplasma noise, which arises in reverse biased PN junctions containing local defects featuring lower breakdownvoltage than the rest PN junction. When a high electric field is applied to this PN junction, local breakdowns arise in micro-sized regions, which in turn can lead to the deterioration in quality or destruction of the PN junction. The correlation betweenthe microplasma current noise and the emitted radiation was studied by means of two methods. The first method is based on simultaneous measurement of the current microplasma noise and the photomultiplier output voltage time behaviour for the constant reverse voltage. The second method uses simultaneous measurement of the reverse-biased PN junction narrow-band RMS noise current and the photomultiplier output narrow band RMS voltage for the ramp reverse voltage. The set of crystalline sil

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F06%2F1551" target="_blank" >GA102/06/1551: Diagnostika elektronických součástek s PN přechodem pomocí šumu mikroplazmy</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of 23rd European Photovoltaic Solar Energy Conference

ISBN

3-936338-24-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Název nakladatele

WIP-Renewable Energies

Místo vydání

Valencia, Spain

Místo konání akce

Valencie

Datum konání akce

1. 9. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—