Rekonstrukce obrazů mikroskpie skenující sondou

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU80247" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU80247 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Advanced method of Scanning probe microscopy image restoration

Popis výsledku v původním jazyce

The scanning probe microscopy techniques share the problem with finite tip dimensions. If the surface geometry is known, it is quite easy to determine the tip shape (in certain circumstances) and subsequently provide image restoration. The case when there is no need to subsequent tip shape determination scan is described in this paper. The knowledge of surface geometry allows us to determine accurate tip shape. The employed approach is a variation of Villarrubia's tip characterizer one. Additionally, itallows determine regions on restored image where the uncertainty of the surface reconstruction is too high.

Název v anglickém jazyce

Advanced method of Scanning probe microscopy image restoration

Popis výsledku anglicky

The scanning probe microscopy techniques share the problem with finite tip dimensions. If the surface geometry is known, it is quite easy to determine the tip shape (in certain circumstances) and subsequently provide image restoration. The case when there is no need to subsequent tip shape determination scan is described in this paper. The knowledge of surface geometry allows us to determine accurate tip shape. The employed approach is a variation of Villarrubia's tip characterizer one. Additionally, itallows determine regions on restored image where the uncertainty of the surface reconstruction is too high.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GD102%2F09%2FH074" target="_blank" >GD102/09/H074: Diagnostika defektů v materiálech za použití nejnovějších defektoskopických metod</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 15th conference Student EEICT 2004 volume 3

ISBN

978-80-214-3869-9

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

NOVPRESS

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

FEKT VUT v Brně

Datum konání akce

23. 4. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—