Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Využití yttrium oxidu pro vytváření antireflexních vrstev na křemíkových solárních článcích

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU81713" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU81713 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Yttrium Oxide Layers for Antireflection Coating of Silicon Solar Cells

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper deals with structural and optical properties of sputtered thin yttrium-oxide layers. Yttrium oxide is one of the materials which can be used as the antireflection coating for silicon solar cells. Its advantages are mainly a good thermal stability and a suitable refraction index. The yttrium oxide layers were deposited by means of RF magnetron sputtering system in non-reactive mode from yttrium-oxide target. A main aim was focused on evaluation of deposited layers by using UV-VIS spectrophotometry.

  • Název v anglickém jazyce

    Yttrium Oxide Layers for Antireflection Coating of Silicon Solar Cells

  • Popis výsledku anglicky

    This paper deals with structural and optical properties of sputtered thin yttrium-oxide layers. Yttrium oxide is one of the materials which can be used as the antireflection coating for silicon solar cells. Its advantages are mainly a good thermal stability and a suitable refraction index. The yttrium oxide layers were deposited by means of RF magnetron sputtering system in non-reactive mode from yttrium-oxide target. A main aim was focused on evaluation of deposited layers by using UV-VIS spectrophotometry.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    EDS 09 IMAPS CS INTERNATIONAL CONFERENCE PROCEEDINGS

  • ISBN

    978-80-214-3933-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    NOVPRESS s.r.o.

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    2. 9. 2009

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku