Noise of Reverse Biased Solar Cells

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F09%3APU82378" target="_blank" >RIV/00216305:26220/09:PU82378 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Noise of Reverse Biased Solar Cells

Popis výsledku v původním jazyce

The non-destructive testing and analysis of single crystal silicon solar cell is the focal point of our research. The noise spectroscopy and I-V curve measurement of reverse biased pn junction provide information that is connected with solar cell reliability and that provide for not only local defect characterization. We propose a new electric solar cell model, as a base for an enhanced noise model, which is in accordance with the experimentally obtained I-V curves. We suggest the physical nature of anunconventional behavior in reverse I-V characteristics, which is typical for solar cells without apparent local avalanche breakdowns.

Název v anglickém jazyce

Noise of Reverse Biased Solar Cells

Popis výsledku anglicky

The non-destructive testing and analysis of single crystal silicon solar cell is the focal point of our research. The noise spectroscopy and I-V curve measurement of reverse biased pn junction provide information that is connected with solar cell reliability and that provide for not only local defect characterization. We propose a new electric solar cell model, as a base for an enhanced noise model, which is in accordance with the experimentally obtained I-V curves. We suggest the physical nature of anunconventional behavior in reverse I-V characteristics, which is typical for solar cells without apparent local avalanche breakdowns.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GD102%2F09%2FH074" target="_blank" >GD102/09/H074: Diagnostika defektů v materiálech za použití nejnovějších defektoskopických metod</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

AIP conference proceedings

ISSN

0094-243X

e-ISSN

—

Svazek periodika

1129

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—