Vše
Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Chemická pasivácia povrchu kremíkových dosiek pre solárne články

Popis výsledku

This work deals with an examination of different solution types a for the chemical passivation of a silicon surface. Various solutions are tested on silicon wafers for their consequent comparison. The main purpose of this work is to find optimal solution, which suits the requirements of a time stability, start-up velocity of passivation and reproducibility of the measurements.

Klíčová slova

passivation of a silicon surfacequinhydronechemical passivationiodine passivationmeasurement of minority carrier lifetimemethod MW PCD (Microwave Photoconductivity Decay)

Identifikátory výsledku

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Chemická pasivácia povrchu kremíkových dosiek pre solárne články

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This work deals with an examination of different solution types a for the chemical passivation of a silicon surface. Various solutions are tested on silicon wafers for their consequent comparison. The main purpose of this work is to find optimal solution, which suits the requirements of a time stability, start-up velocity of passivation and reproducibility of the measurements.

  • Název v anglickém jazyce

    Chemical passivation of surface for silicon solar cells

  • Popis výsledku anglicky

    This work deals with an examination of different solution types a for the chemical passivation of a silicon surface. Various solutions are tested on silicon wafers for their consequent comparison. The main purpose of this work is to find optimal solution, which suits the requirements of a time stability, start-up velocity of passivation and reproducibility of the measurements.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Elektrotechnika a informatika 2009

  • ISBN

    978-80-7043-810-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    Neuveden

  • Místo vydání

    Plzeň, Západočeská univerzita v Plzni

  • Místo konání akce

    Nečtiny

  • Datum konání akce

    4. 11. 2009

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku