NONDESTRUCTIVE MEASUREMENT OF TANTALUM NANOLAYERS

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F10%3APU88227" target="_blank" >RIV/00216305:26220/10:PU88227 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
NONDESTRUCTIVE MEASUREMENT OF TANTALUM NANOLAYERS
Popis výsledku v původním jazyce
The leakage current value for the various temperatures and applied voltage are frequently used as the reliability indicator for tantalum capacitors. Leakage current provides the information on the insulating layer thickness, its homogeneity and the number of defects in tested sample. In the insulating layer there are defects, which are responsible for the value and time evolution of the leakage current.
Název v anglickém jazyce
NONDESTRUCTIVE MEASUREMENT OF TANTALUM NANOLAYERS
Popis výsledku anglicky
The leakage current value for the various temperatures and applied voltage are frequently used as the reliability indicator for tantalum capacitors. Leakage current provides the information on the insulating layer thickness, its homogeneity and the number of defects in tested sample. In the insulating layer there are defects, which are responsible for the value and time evolution of the leakage current.

Projekt
<a href="/cs/project/GD102%2F09%2FH074" target="_blank" >GD102/09/H074: Diagnostika defektů v materiálech za použití nejnovějších defektoskopických metod</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)