Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Measurement induced solar cell defect characterization

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU92272" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU92272 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Measurement induced solar cell defect characterization

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Light emission from reverse biased solar cell can reveal structure inhomogenity. Although there is large variety of defects, this paper shows simple method for their basic classification. The method allows to determine imperfections caused by mechanicaldamage of sample (mi-crocracks and structure snapping). It is based on the measurement of light emission at fixed reverse voltage while the temperature is changing in the range of 20 K. Experimental light emission results are consequently correlated withlight induced beam current map.

  • Název v anglickém jazyce

    Measurement induced solar cell defect characterization

  • Popis výsledku anglicky

    Light emission from reverse biased solar cell can reveal structure inhomogenity. Although there is large variety of defects, this paper shows simple method for their basic classification. The method allows to determine imperfections caused by mechanicaldamage of sample (mi-crocracks and structure snapping). It is based on the measurement of light emission at fixed reverse voltage while the temperature is changing in the range of 20 K. Experimental light emission results are consequently correlated withlight induced beam current map.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GD102%2F09%2FH074" target="_blank" >GD102/09/H074: Diagnostika defektů v materiálech za použití nejnovějších defektoskopických metod</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    proceedings of the 17th conference student eeict 2011 vol. 3

  • ISBN

    978-80-214-4273-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    386-390

  • Název nakladatele

    Novpress

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    28. 4. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku