Artificial defects of solar cells

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU93295" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU93295 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Artificial defects of solar cells

Popis výsledku v původním jazyce

Artificial defects of solar cells are observable with laser beam induced current techniques. Reversed bias solar cell light emission can also reveal structure inhomogenity and local mechanical damage of the sample. The paper shows simple method for basicclassification into structure group and artificial defects group. Observed artificial defects are shown and process of its creation is described. Defects classification method is based on the measurement of light emission at fixed reverse voltage whilethe temperature of sample is changing in the range of 20 K. There is different light emission temperature dependence in the case of bulk defects and mechanical damage defects. Experimental light emission data are consequently correlated with laser beam induced current map.

Název v anglickém jazyce

Artificial defects of solar cells

Popis výsledku anglicky

Artificial defects of solar cells are observable with laser beam induced current techniques. Reversed bias solar cell light emission can also reveal structure inhomogenity and local mechanical damage of the sample. The paper shows simple method for basicclassification into structure group and artificial defects group. Observed artificial defects are shown and process of its creation is described. Defects classification method is based on the measurement of light emission at fixed reverse voltage whilethe temperature of sample is changing in the range of 20 K. There is different light emission temperature dependence in the case of bulk defects and mechanical damage defects. Experimental light emission data are consequently correlated with laser beam induced current map.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

ElectroScope - http://www.electroscope.zcu.cz

ISSN

1802-4564

e-ISSN

—

Svazek periodika

2011

Číslo periodika v rámci svazku

2

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

33-37

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—