Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Solar Cell Structure Defects and Cracks

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU101205" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU101205 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Solar Cell Structure Defects and Cracks

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Photon emission from the reverse biased silicon solar cell samples was used for localization of defects. Light was detected in the wavelength range 350-800 nm. Laser beam induced current technique was used for crack localization and results were correlated with light emission. Defects that emit photons with mechanism different to avalanche breakdown were investigated in microscale using scanning electron microscopy. In the most of the defective areas structure damages uncovering the pn junction have been found.

  • Název v anglickém jazyce

    Solar Cell Structure Defects and Cracks

  • Popis výsledku anglicky

    Photon emission from the reverse biased silicon solar cell samples was used for localization of defects. Light was detected in the wavelength range 350-800 nm. Laser beam induced current technique was used for crack localization and results were correlated with light emission. Defects that emit photons with mechanism different to avalanche breakdown were investigated in microscale using scanning electron microscopy. In the most of the defective areas structure damages uncovering the pn junction have been found.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Fracture Mechanics for Durability, Reliability and Safety

  • ISBN

    978-5-905576-18-8

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    507-514

  • Název nakladatele

    Neuveden

  • Místo vydání

    Kazaň

  • Místo konání akce

    Kazaň

  • Datum konání akce

    26. 8. 2012

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku