Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Microholes on the silicon solar cell surface

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU100375" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU100375 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Microholes on the silicon solar cell surface

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Local defects of optoelectronic devices with pn junction affect parameters of whole devices and their quality. For the defects localization purposes the emission of photons from reverse biased devices can be used. Actual results turns out, that those particular light emitting centers can have different physical nature. Some of these defects have indisputable connection with surface morphology, however some not, which makes localization more difficult. In this paper only microholes are investigated. Microscopic localization is not elementary due to small defect size (in submicron range) and low emission intensity. Experimental results are shown and discussed.

  • Název v anglickém jazyce

    Microholes on the silicon solar cell surface

  • Popis výsledku anglicky

    Local defects of optoelectronic devices with pn junction affect parameters of whole devices and their quality. For the defects localization purposes the emission of photons from reverse biased devices can be used. Actual results turns out, that those particular light emitting centers can have different physical nature. Some of these defects have indisputable connection with surface morphology, however some not, which makes localization more difficult. In this paper only microholes are investigated. Microscopic localization is not elementary due to small defect size (in submicron range) and low emission intensity. Experimental results are shown and discussed.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    New trends in physics 2012

  • ISBN

    978-80-214-4594-9

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    165-168

  • Název nakladatele

    Litera Brno

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    11. 10. 2012

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku