Noise of Thick-Film Resistors Used as Pressure Sensors

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU95270" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU95270 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Noise of Thick-Film Resistors Used as Pressure Sensors

Popis výsledku v původním jazyce

We are concentrating our effort on the use of low frequency noise as a diagnostic tool for the reliability improvement and sensitivity increase of the thick film pressure sensors. The recent development of some new technologies increases the interest forceramic pressure sensors (CPS). One of these technologies is low-temperature co-fired ceramic (LTCC) technology. This technology and material in combination with conventional thick-film technology offers a feasible solution to increase the sensitivity of the pressure sensors and the flexibility in design, both with the intention to replace the silicon-based pressure sensor in some applications. Low frequency noise is a sensitive indicator of the presence of defects and imperfection in the structure. The measurements of the electronic noise level could be used for the evaluation of different technologies in order to tune the technology and for the evaluation of sensors quality within one technology. We show the correlation between the n

Název v anglickém jazyce

Noise of Thick-Film Resistors Used as Pressure Sensors

Popis výsledku anglicky

We are concentrating our effort on the use of low frequency noise as a diagnostic tool for the reliability improvement and sensitivity increase of the thick film pressure sensors. The recent development of some new technologies increases the interest forceramic pressure sensors (CPS). One of these technologies is low-temperature co-fired ceramic (LTCC) technology. This technology and material in combination with conventional thick-film technology offers a feasible solution to increase the sensitivity of the pressure sensors and the flexibility in design, both with the intention to replace the silicon-based pressure sensor in some applications. Low frequency noise is a sensitive indicator of the presence of defects and imperfection in the structure. The measurements of the electronic noise level could be used for the evaluation of different technologies in order to tune the technology and for the evaluation of sensors quality within one technology. We show the correlation between the n

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

CARTS EUROPE 2011 PROCEEDING

ISBN

0-7908-0155-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

"2-39"-"2-45"

Název nakladatele

Electronic Components Industry Association ECIA

Místo vydání

Nice, France

Místo konání akce

Nice

Datum konání akce

10. 10. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—