Noise in Thick-Film Pressure Sensors

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU95272" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU95272 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Noise in Thick-Film Pressure Sensors

Popis výsledku v původním jazyce

Industrial demand for high reliability of electronic devices stimulates research in the field of transport and noise phenomena in pressure sensors based on the thick conducting films. We are concentrating our effort on the use of low frequency noise as adiagnostic tool for the reliability improvement and sensitivity increase of the thick film pressure sensors. The recent development of some new technologies increases the interest for ceramic pressure sensors (CPS). One of these technologies is low-temperature co-fired ceramic (LTCC) technology. This technology and material in combination with conventional thick-film technology offers a feasible solution to increase the sensitivity of the pressure sensors and the flexibility in design, both with the intention to replace the silicon-based pressure sensor in some applications. Low frequency noise is a sensitive indicator of the presence of defects and imperfection in the structure. The measurements of the electronic noise level could be

Název v anglickém jazyce

Noise in Thick-Film Pressure Sensors

Popis výsledku anglicky

Industrial demand for high reliability of electronic devices stimulates research in the field of transport and noise phenomena in pressure sensors based on the thick conducting films. We are concentrating our effort on the use of low frequency noise as adiagnostic tool for the reliability improvement and sensitivity increase of the thick film pressure sensors. The recent development of some new technologies increases the interest for ceramic pressure sensors (CPS). One of these technologies is low-temperature co-fired ceramic (LTCC) technology. This technology and material in combination with conventional thick-film technology offers a feasible solution to increase the sensitivity of the pressure sensors and the flexibility in design, both with the intention to replace the silicon-based pressure sensor in some applications. Low frequency noise is a sensitive indicator of the presence of defects and imperfection in the structure. The measurements of the electronic noise level could be

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

CARTS EUROPE 2011 PROCEEDING

ISBN

0-7908-0155-8

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

271-274

Název nakladatele

MIDEM

Místo vydání

Ajdovščina, Slovenia

Místo konání akce

Ajdovščina, Slovenia

Datum konání akce

28. 11. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—