Noise and Electro-Ultrasonic Spectroscopy of Conducting Polymer Thick Films

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F11%3APU95273" target="_blank" >RIV/00216305:26220/11:PU95273 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Noise and Electro-Ultrasonic Spectroscopy of Conducting Polymer Thick Films

Popis výsledku v původním jazyce

Thick conducting films based on conducting polymer are characterized by DC conductivity and noise in temperature range 10 to 300 K. Conducting polymers could be used e.g. for the top electrode (cathode) in the solid tantalum or niobium capacitors. On theconducting polymer layer the top layer of carbon/graphite and/or silver polymer based pastes is applied in the capacitor technology. Our samples structure consists of conducting polymer layers with semiconductor conductivity applied on the alumina substrate of the size 50 x 4 mm2. Contact electrodes are prepared either from two layers - carbon/graphite paste (lower one) and silver paste (upper one), or by silver paste layer only. We are measuring DC conductivity of the structures, which is of the orderof 1 mS at the room temperature and decreases with decreasing temperature for both types of contact technologies. For the evaluation of the contact technology two testing methods are proposed. The first is the measurement of the potentia

Název v anglickém jazyce

Noise and Electro-Ultrasonic Spectroscopy of Conducting Polymer Thick Films

Popis výsledku anglicky

Thick conducting films based on conducting polymer are characterized by DC conductivity and noise in temperature range 10 to 300 K. Conducting polymers could be used e.g. for the top electrode (cathode) in the solid tantalum or niobium capacitors. On theconducting polymer layer the top layer of carbon/graphite and/or silver polymer based pastes is applied in the capacitor technology. Our samples structure consists of conducting polymer layers with semiconductor conductivity applied on the alumina substrate of the size 50 x 4 mm2. Contact electrodes are prepared either from two layers - carbon/graphite paste (lower one) and silver paste (upper one), or by silver paste layer only. We are measuring DC conductivity of the structures, which is of the orderof 1 mS at the room temperature and decreases with decreasing temperature for both types of contact technologies. For the evaluation of the contact technology two testing methods are proposed. The first is the measurement of the potentia

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

IMAPS ? IEEE CPMT Poland Conference

ISBN

978-83-932464-0-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

59-66

Název nakladatele

IMAPS - CPMT IEEE Poland

Místo vydání

Gdansk, Poland

Místo konání akce

Gdansk

Datum konání akce

21. 11. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—