Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Noise Contact Study of CdTe Radiation Detectors

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F12%3APU101449" target="_blank" >RIV/00216305:26220/12:PU101449 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Noise Contact Study of CdTe Radiation Detectors

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We have compared noise spectra and charge transport properties analysis results of CdTe radiation detectors: low-ohmic and semi-insulating. We observed assymmetry of IV characteristics of the low-ohmic detector between "normal" nad "reverse" bias, showing improper quality of contacts preparation, which resulted in higher concentration of impurities in M-S interface area. This finding was supported by the fact that the low frequency noise spectral density magnitude was proportional to applied voltage with exponent of 2.7, which is higher than theoretical value 2. The more advanced manufacturing technology of the semi-insulating detector resulted in symmetric contacts IV characteristics and its linear character. Also, this detector showed lower increaseof noise spectral density magnitude with exponent of 2.3.

  • Název v anglickém jazyce

    Noise Contact Study of CdTe Radiation Detectors

  • Popis výsledku anglicky

    We have compared noise spectra and charge transport properties analysis results of CdTe radiation detectors: low-ohmic and semi-insulating. We observed assymmetry of IV characteristics of the low-ohmic detector between "normal" nad "reverse" bias, showing improper quality of contacts preparation, which resulted in higher concentration of impurities in M-S interface area. This finding was supported by the fact that the low frequency noise spectral density magnitude was proportional to applied voltage with exponent of 2.7, which is higher than theoretical value 2. The more advanced manufacturing technology of the semi-insulating detector resulted in symmetric contacts IV characteristics and its linear character. Also, this detector showed lower increaseof noise spectral density magnitude with exponent of 2.3.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the Scientific Conference Physics of Materials 2012

  • ISBN

    978-80-553-1175-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    99-104

  • Název nakladatele

    Neuveden

  • Místo vydání

    Košice, Slovensko

  • Místo konání akce

    Košice

  • Datum konání akce

    17. 10. 2012

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku